画像処理・臨床検査・生産管理の株式会社システムインフロンティア

株式会社 システムインフロンティア

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PROBE

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半導体メモリの量産工場においてメモリテスタから得られた不良ビットデータを用いて、不良モードを高速に分類し、欠陥と照合し、不良解析を支援するシステムです。 大容量メモリ対応、不良モード分類定義機能、高速分類を特長としています。

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